ایران ترجمه – مرجع مقالات ترجمه شده دانشگاهی ایران

پوشش سیلیکای نشر- آبی جدید KBaPO4:Eu2+ فسفری تحت برانگیختگی فرابنفش (خلاء )

پوشش سیلیکای نشر- آبی جدید KBaPO4:Eu2+   فسفری تحت برانگیختگی فرابنفش (خلاء )

پوشش سیلیکای نشر- آبی جدید KBaPO4:Eu2+ فسفری تحت برانگیختگی فرابنفش (خلاء ) – ایران ترجمه – Irantarjomeh

 

مقالات ترجمه شده آماده گروه شیمی
مقالات ترجمه شده آماده کل گروه های دانشگاهی

مقالات رایگان

مطالعه ۲۰ الی ۱۰۰% رایگان مقالات ترجمه شده

۱- قابلیت مطالعه رایگان ۲۰ الی ۱۰۰ درصدی مقالات ۲- قابلیت سفارش فایل های این ترجمه با قیمتی مناسب مشتمل بر ۳ فایل: pdf انگیسی و فارسی مقاله همراه با msword فارسی  

چگونگی سفارش

الف – پرداخت وجه بحساب وب سایت ایران ترجمه (شماره حساب) ب- اطلاع جزئیات به ایمیل irantarjomeh@gmail.com شامل: مبلغ پرداختی – شماره فیش / ارجاع و تاریخ پرداخت – مقاله مورد نظر

 

مقالات ترجمه شده شیمی - ایران ترجمه - irantarjomeh

 

شماره
۱۷
کد مقاله
CHEM17
مترجم
گروه مترجمین ایران ترجمه – irantarjomeh
دکتر حسین دشتی
نام فارسی
پوشش سیلیکای نشر- آبی جدید KBaPO4:Eu2+   فسفری تحت برانگیختگی فرابنفش (خلاء )
نام انگلیسی
novel blue-emitting silica-coated KBaPO4:Eu2+ phosphor under vacuum ultraviolet and ultraviolet excitation
تعداد صفحه به فارسی
۱۶
تعداد صفحه به انگلیسی
۴
کلمات کلیدی به فارسی
پوشش سیلیکا, نشر آبی , برانگیختگی  فرابنفش
کلمات کلیدی به انگلیسی
blue-emitting, silica-coated, ultraviolet excitation
مرجع به فارسی
دپارتمان علوم مواد – الزویر
مرجع به انگلیسی
Materials Chemistry and Physics; Elsevier
قیمت به تومان
۵۰۰۰
سال
۲۰۰۹
کشور
کره

 

KBaPO۴:Eu۲+  فسفری جدید پوشیده از سیلیکا ودارای نشر نور آبی تحت برانگیختگی
فرابنفش خلا و فرابنفش
شیمی و فیزیک مواد
دپارتمان علوم مواد
۲۰۰۹
 
 
چکیده
 KBaPO4:Eu۲+ فسفری نشر دهنده شدید نور آبی به روش واکنش حالت جامد ساخته شد. ساختار کریستالی KBaPO۴:Eu۲+ با استفاده از اطلاعات پراش نوترون بوسیله پالایش ریتولد برای اولین بار پالایش شد. ترکیب KBa۰/۹۹Eu۰/۰۱PO۴ نشر آبی شدید(طول موج پیک، nm ۴۲۰) با شدت نسبی در برابر فسفر آبی BaMgAl۱۰O۱۷:Eu۲+ تجاری (نایچیکا) ۶۵% ، ۱۲۲% و ۱۰۸% به ترتیب تحت برانگیختگی ۱۴۷، ۲۵۴، و
nm ۳۶۵ را نشان می دهد. علاوه بر این، با بکار بردن پوشش سیلیکا با اندازه نانو بر روی سطح فسفری، مقاومت رطوبتی عالی KBP:Eu۲+ حاصل شد. این ترکیب، به علت نشر آبی شدید و خلوص رنگ عالی آن (۰٫۰۲۷۱ ، ۰٫۱۶۰۶)، بعنوان فسفر نشر دهنده آبی برای PDPها، CCFLها و LED – pcهای سفید بر اساس UV LED نزدیک بسیار قدرتمند می‌باشد.
  1. مقدمه
فسفرها به علت تکنولوژی نوظهور آن در دستگاههای نور پردازی و نمایشی جزء موارد اساسی بشمار می‌آیند. در حال حاضر، تقاضا برای تولید فسفرهای جدیدی که بتوانند تحت نور فرابنفش و فرابنفش خلاء برانگیخته شوند، وجود دارد که علت آن نیاز به مواد درخشنده مناسب برای دستگاه‌های نورپردازی و نمایشی می‌باشد. ذکر این نکته قابل توجه است که کیفیت محصول این دستگاهها مستقیما به عملکرد فسفرهای بکار رفته در این دستگاهها وابسته است.
BaMgAl۱۰O۱۷:Eu۲+ (BAM:Eu۲+) به گستردگی در صفحه‌های نمایش پلاسما (PDPها)، لامپ فلورسانس کاتدی سرد (CCFLها) و دیودهای نشر دهنده نور سفید (LEDها)با تبدیل فسفری(pc)، بر اساس LED فرابنفش نزدیک، بعنوان یک فسفر نشر دهنده نور آبی، مورد استفاده قرار گرفته است. در طی عملکرد PDP ، BAM:Eu۲+ سبب بروز یکسری از عملکردها در ارتباط با تجزیه نشری و جابجایی رنگ می‌شود که به علت بمباران یونی و مجاورت با تابش UVU می‌باشد. این ماده، همچنین در طی فرآیند سوزاندن رنگپایه PDP که کاهش شدید بازده  BAM:Eu۲+  را باعث می‌شود، بسیار ناپایدار است. این عوامل طول عمر PDPها را بطور قابل توجهی کاهش می‌دهند. علاوه بر این، خواص درخشندگی نظیر بازده درخشش، خلوص رنگ و غیره را باید افزایش داد. بنابراین، تلاشهای مختلفی در راستای تولید فسفرهای نشر دهنده نور آبی برای کاربردهای مختلف انجام شده است.
در عین حال، ما بر شبکه میزبان KBaPO۴ به عنوان یک فسفر بالقوه نشر دهنده نور آبی به علت مقاومت گرمایی عالی آن (از نظر عملکرد) و خلوص خوب رنگ آن تمرکز می‌کنیم. با این وجود، هیچ گزارشی راجع به خواصی نظیر پایداری رطوبتی، پایداری گرمایی در فرآیند تولید بر اساس زمینه میزبان KBaPO۴ برای کاربردهای PDP و CCFL وجود ندارد. در این تحقیق، سنتز فسفر نشر دهنده نور آبی KBaPO۴ فعال شده با Eu۲+ (KBP:Eu۲+ ) را گزارش می‌کنیم و ساختار کریستالی KBP:Eu۲+ را با استفاده از اطلاعات پراش نوترونی (NPD) بوسیله پالایش ریتولد، برای اولین بار تحت پالایش در می‌آوریم. این فسفر بر اساس پایداری گرمایی و مقاومت رطوبتی برای کاربردهای PDP، CCFL و LED سفید مورد آزمایش قرار گرفته است. علاوه بر این، تلاشهایی برای افزایش مقاومت رطوبتی بوسیله پوشش سیلیکای نانو ذره‌ای بر روی فسفر KBP:Eu۲+ انجام شده است.
 
  1. بخش تجربی
نمونه‌های پودری KBP:Eu۲+ به روش واکنش حالت جامد تهیه شده‌اند. برای سنتز نمونه‌های فسفری، K۲CO۳ (آلدریچ ۹۹/۹۹%)، BaHPO۴ (آلدریچ ۹۹/۹۹%)، (NH۴)۲HPO۴ (آلدریچ ۹۹/۹۹%) و Eu۲O۳ (آلدریچ ۹۹/۹۹%) بصورت مواد خام بکار برده شدند. این مواد خام با استفاده از یک هاون عقیق به مدت یک ساعت با هم مخلوط شدند و سپس در دمای ۱۰۵۰ درجه سانتیگراد و در اتمسفر کاهنده H۲ (۵%) و  N۲ (۹۵%) به مدت ۳ ساعت حرارت داده شد. اطلاعات پراش پرتو (XRD) X پودر، در محدوده زاویه پراکندگی ۲۰° £ ۲q £ ۵۰° به دست آمد (Rigaku Dmaz2200V). اطلاعات NDP نیز در محدوده پراکندگی از ۰ الی ۱۶۰ درجه با استفاده از نوترون ۱٫۸۳۴۸ در مرکز هانارو موسسه تحقیقات انرژی اتمی کره (KAERI) انجام شد. پالایش ریتولد با توجه به داده‌های NPD با استفاده از برنامه سیستم آنالیز ساختاری عمومی (GSAS) انجام شد.
طیفهای درخشندگی نوری (PL) با پویش طول موج از ۱۲۵ تا ۶۰۰ نانومتر تحت برانگیختگی در ناحیه VUV بوسیله سالیسیلات سدیم تصحیح شد. طیفهای XPS نمونه فسفری با استفاده از یک اسپکترومتر XPS (ESCALAB 250) که به یک مبنع پرتو X،
 Al Ka مجهز شده بود (E = 1486/6 eV) به دست آمد. مورفولوژی (ریخت شناسی) فسفرها بوسیله میکروسکوپ پویشی الکترون(SEM, Philips XL30SFEG) و میکروسکوپ عبوری الکترون(TEM, JEOL JEM-3010) مشاهده شد.
شکل ۱٫ نقاط معرف شدتهای مشاهده شده می‌باشد و خط ممتد نیز معرف مورد محاسبه شده است. یک طرح متمایز در ذیل نشان داده شده و نیمرخ تمایز و موقعیتهای بازتاب مورد انتظار نشان داده شده‌اند. داخل شکل معرف مختصات Ba۲+/Eu۲+ و فضای میان اتمی بین Ba۲+/Eu۲+  و اتمهای اکسیژن می‌باشد.
 
برای بهبود پایداری گرمایی و مقاومت رطوبتی KBP:Eu۲+ ، یک پوشش سیلیکای نانو ذره‌ای با استفاده از سیلیکای کلوییدی (آلدریچ LUDOX-AM-30) بکار برده شد. در ابتدا، پودر KBP:Eu۲+ (g۱) به داخل mL ۱۰۰ آب فاقد یون با
 LUDOXAM-30(10 mL) پخش شد. محلول به مدت ۱ ساعت به آرامی به هم زده شد. در پایان، محلول مذکور چند بار با اتانول شسته شده و سپس در هوا و دمای ۸۰ درجه سانتیگراد به مدت ۱۲ ساعت خشک شد. پس از آن، KBP:Eu۲+ پوشش داده شده با سیلیکای نانو ذره‌ای در دمای ۴۰۰ درجه سانتیگراد در هوا مشتعل شد تا چسبندگی آن بر سطح فسفری افزایش یابد.
  1. نتایج و مباحث
شکل ۱ الگو‌های پالایش ساختاری نمونه KBP:Eu۲+ در برابر NPD را برای اولین بار نشان می‌دهد. مدل ساختاری آغازین برای KBP:Eu۲+ با اطلاعات کریستالوگرافی (بلورشناسی) گزارش شده بوسیله ماس و دوریف ساخته شد. گرچه اطلاعات ساختاری با استفاده از داده‌های XRD نمونه تک کریستال گزارش شد، به دست آوردن اطلاعات دقیق مربوط به عناصر سبک نظیر O، C ، N و غیره دشوار است. با این وجود، آنالیز NPD برای بدست آوردن این اطلاعات بسیار مفید هستند، زیرا پراکندگی نوترون به تعداد الکترونهای اتم وابسته نیست، بویژه O۲- وk۲+  در KBP:Eu۲+ . فاکتور  R وزن شده نهایی، Rwp ، ۱۱/۴% و شاخص درستی انطباق (S (= Rwp / Re در حدود ۰۱/۲ بود. پارامترهای پالایش شده شبکه KBP:Eu۲+ ، a = 7/707(2) ، b = 5/660(1) و          c = 9/962(1)  هستند. پارامتر پالایش شده ساختاری KBP:Eu۲+ حاصل از پالایش ریتولد در جدول ۱ آمده است. تمام بازتاب‌ها بر اساس ساختار کریستالی اورتورومبیک و گروه فضایی pmna (۶۲ No.) فهرست شده‌اند. هیچ فاز ناخالصی در الگوی NPD یافت نشد و همین امر به وضوح نشان می‌دهد کهEu۲+ به شبکه میزبان پیوند یافته است. میانگین فاصله بین اتمی Eu۲+ و اکسیژن (dEu-o) در KBP:Eu۲+،  (۱)۸۲۲/۲ بوده است و به عنوان مقایسه، این فاصله درBAM:Eu۲+   ۹۴۲/۲ می‌باشد. در تحقیق قبلی ما، معلوم شد که dEu-o کوتاه در شبکه میزبان عامل مهمی در تشخیص پایداری گرمایی قوی در طی فرآیند پخت می‌باشد. آزمایش پخت برای فسفر KBP:Eu۲+ در ۵۰۰ درجه سانتیگراد به مدت ۳۰ دقیقه در هوا انجام شد. پس از ۳۰ دقیقه پخت در دمای ۵۰۰ درجه سانتیگراد، شدت PL برای KBP:Eu۲+ تقریبا ۷% کاهش یافت در حالیکه این شدت برای BAM:Eu۲+  تحت برانگیختگی nm۱۴۷ تقریبا ۲۵% کاهش یافت. این نکته پیش‌بینی می‌شود که کاربرد KBP:Eu۲+ در صفحات PDP ، پایداری گرمایی قوی را در برابر اتمسفر اکسید کننده بیرونی در طی فرایند سوزاندن رنگپایه PDP فراهم خواهد کرد.
جدول ۱٫ ساختار پالایش شده پارامترهای  حاصل شده از پالایش ریتولد با استفاده از داده‌های NPD در دمای اتاق. اعداد داخل پرانتز انحراف معیار ارزیابی شده آخرین عدد اصلی می‌باشند.
شکل ۲٫  طیفهای برانگیختگی و نشری: شدت درخشندگی نسبی  الف)  (نایچیا) و ب)   بعنوان تابعی از  جایگزین x.
طیفهای برانگیختگی PL و نشری BAM:Eu۲+  (نایچیا) و KBP:Eu۲+ در شکل (i)۲ نشان داده شده اند. در طیفهای PL، ماکزیمم پیک نشری KBP:Eu۲+ و BAM:Eu۲+  به ترتیب ۴۲۰ و nm ۴۵۰ هستند. طول موج نشری فسفر فعال شده با Eu۲+ می‌تواند بوسیله موقعیت نسبی بین پایین‌ترین تراز ۵d و ۸S۷/۲ تعیین شود. به علت وجود میدان بلور قوی در اطراف یونهای Eu۲+ ، پایین‌ترین تراز ۵d از تراز ۶P۷/۲ پایین‌تر می‌رود و بنابراین پیک نشری برای KBP:Eu۲+ در nm ۴۲۰ مشاهده می‌شود. در زیر محدوده برانگیختگی VUV و UV نزدیک، نشر آبی شدید KBP:Eu۲+ در مقایسه با BAM:Eu۲+  به صورت زیر مشاهده شد: ۶۵% BAM:Eu۲+  تحت برانگیختگی nm ۱۴۷، ۱۲۲% تحت برانگیختگی nm ۲۵۴ و ۱۰۸% تحت برانگیختگی nm ۳۶۵. گرچه روشهای بهینه‌سازی می‌توانند بهبود بیشتری یابند، خاصیت PL مربوط به KBP:Eu۲+ تحت نواحی UV و VUV بصورت نشر آبی بسیار شدیدی خواهد بود. علاوه بر این، مختصات رنگ CIE به دست آمده از فسفر KBP:Eu۲+ سنتز شده ۱۶۰۶/۱ = x و ۰۲۷۱/۰ = y هستند. همانگونه که قبلا ذکر شد، عملکرد CCFL ، PDP و LEDهای سفید ـ pc بر اساس مواد فسفری است که در همین مواد استفاده می‌شوند. بویژه فسفر آبی جدید باید در مقایسه با فسفر BAM:Eu۲+  تجاری، بازده بالا و خلوص رنگ خوبی داشته باشد. بنابراین، KBP:Eu۲+ به عنوان یک فسفر نشری آبی در محدوده گسترده‌ای از کاربردها، خاصیت PL بسیار جالبی خواهد داشت.
برای اصلاح شدت PL ، غلظت Eu۲+ در سایت(موقعیت) Ba۲+ در شبکه KBP تغییر داده شد. شکل (ii)۲ شدت PL را در KBP:Eu۲+ با تغییر غلظت Eu۲+ در محدوده از ۰۰۵/۰ تا ۰۳/۰ مول بجای سایت باریم، نشان می‌دهد. بر این اساس، مشخص شد که غلظت بهینه Eu۲+ در KBP:Eu۲+ ، ۰۱/۰ مول است. محاسبه فاصله بحرانی (RC) بر اساس نتایج تجربی (با استفاده از اطلاعات فرونشانی غلظت) و تعداد کاتیونهای (N) موجود در سلول واحد، امکان‌پذیر است. در این مورد، فاصله بحرانی با میانگین کوتاهترین فاصله بین نزدیکترین یونهای فعال کننده مربوط به غلظت بحرانی (XC) مساوی است. فاصله بحرانی با استفاده از رابطه ذکر شده زیر محاسبه می‌شود:
با در نظر گرفتن مقادیر V ، N و ۳ , N = 4, XC = ۰/۰۱)XC (V = 434/6  به ترتیب، که در پالایش ریتولد به دست آمده‌اند، فاصله بحرانی Eu۲+ در KBP:Eu۲+ ، به صورت۲۷ حاصل شد. تا آنجا که به کاربرد دستگاه مربوط است، گزارش شده است که هالیدها و عناصر قلیایی نظیر Cl ، F ، Na+ ، K+ و غیره موجود در فسفر بطور زیان‌آوری بر مقاومت رطوبتی اثر می‌گذارند.  بنابراین، این فسفرها باید از محیط مرطوب دور نگه داشته شوند. با در نظر گرفتن این محدودیت‌ها از لحاظ کاربردی، پوشش سیلیکای با اندازه نانو در فسفر KBP:Eu۲+ بکار برده شد. شکل ۳ تصاویر SEM فسفر KBP:Eu۲+ پوشش داده نشده و پوشش داده شده با سیلیکای نانویی را نشان می‌دهد. همانگونه که در شکل ۳ نشان داده شده، نمونه پوشش داده نشده، سطح نرمی دارد در حالیکه نمونه پوشش داده شده، از ذرات سیلیکای نانویی برخوردار است که از محدوده اندازه ۲۰ تا nm ۳۰ بر روی سطح فسفر قرار گرفته‌اند.
برای تعیین ماهیت پوشش از نظر جزئیات، آنالیز TEM بر روی نمونه فسفری پوشیده شده با سیلیکا انجام شد که در شکل (a)۴ نشان داده شده است. ضخامت لایه سیلیکای نانویی حدود nm ۷۰ تخمین زده شد و این لایه در لایه سطحی ذرات فسفر وجود دارد. بر اساس نتایج  TEM، تایید می‌کنیم که کپسول‌گذاری کامل ذرات فسفر بوسیله لایه‌های سیلیکای با مقیاس نانو حاصل شده است. علاوه بر این، برای تایید ماهیت پیوند بین اتمهای سیلیسیوم و اکسیژن، آنالیز XPS هم بر روی نمونه‌های پوشیده شده و هم بر روی نمونه‌های پوشیده نشده انجام شد. همانگونه که در شکل (b)۴ نشان داده شده، پیک انرژی پیوندی در eV۵/۱۰۲ به سطح پیوندی SiO۲ مرتبط با KBP:Eu۲+ نسبت داده می‌شود. انرژی پیوندی Si2p نمونه‌های پوشیده شده (eV۵/۱۰۲) جابجایی شیمیایی eV۸/۰ را از انواع مراجع (eV۳/۱۰۳) دارد که این امر حاکی از این است که سیلیسیوم احتمالا بوسیله یک پیوند شیمیایی با سطح KBP:Eu۲+ پیوند یافته است. شکل (c)۴ الگوهای XRD سیلیکای کلوییدی و فسفر پوشیده شده با سیلیکا، بصورت وابسته به دما، را نشان می‌دهد. در مورد سیلیکای کلوییدی، فاز سیلیکای کریستالی در بالاتر از ۱۰۰۰ درجه سانتیگراد تشکیل نمی‌شود. بر این مبنا، این بدین معنی است که سیلیکای کلوییدی در بالاترین سطح روی فسفر بصورت یک فاز آمورف (بی شکل) دارای یک پیوند شیمیایی است. ذکر این نکته قابل توجه است که لایه سیلیکای روی فسفر بدون اشتعال در ۴۰۰ درجه سانتیگراد ، به علت داشتن پیوند غیر شیمیایی ، به عنوان مقاومت رطوبتی عمل نمی‌کند.
شکل ۳٫ تصاویر SEM فسفر  : (الف) قبل و (ب)  بعد از پوشش
برای بررسی مقاومت رطوبتی KBP:Eu۲+ پوشیده شده با سیلیکا، هم نمونه‌های پوشیده شده و هم نمونه‌های پوشیده نشده به مدت ۴۸ ساعت در آب مقطر فرو برده شدند که در شکل ۵ نشان داده شده است. این حالت برای سنجش مقاومت رطوبتی کافی است زیرا در مقایسه با محیط مرطوب بسیار شدیدتر است. نمونه‌ها، پس از فرو بردن در آب مقطر، در دمای ۸۰ درجه سانتیگراد در هوا به مدت ۱۲ ساعت خشک شدند. شدت PL، KBP:Eu۲+ پوشیده نشده بطور قابل توجهی، مطابق با کاهش ۳۵%، کاهش یافت اما، شدت PL ، KBP:Eu۲+ پوشیده شده با سیلیکا با شدت اولیه آن مطابقت داشت. این امر نشان می‌دهد که پوشش سیلیکا با اندازه نانو بر روی سطح KBP:Eu۲+ شبکه میزبان را بطور موفقیت‌آمیزی از محیط مرطوب محافظت می‌کند. مقاومت زیاد در برابر رطوبت (یا آب) عمدتا به عامل زیر نسبت داده می‌شود: اثر پوششی سیلیکای با اندازه نانو بر روی سطح فسفر در برابر مولکولهای آب.
شکل ۴٫ (الف) تصویر TEM نانو سیلیکای پوشش داده شده با فسفر  (ب) طیف XPS سطح Si2p : قبل و بعد از پوشش (ج) الگوهای XRD (۱) فسفر  با پوشش سیلیکا با اشتعال در ۴۰۰ درجه سانتیگراد (۲) سیلیکای کلوییدی با اشتعال در ۴۰۰ درجه سانتیگراد و (۳) سیلیکای کلوییدی با اشتعال در ۱۰۰۰ درجه سانتیگراد
شکل ۵٫ شدتهای PL وابسته به و  با پوشش سیلیکای با اندازه نانو پس از آزمایش رطوبت در آب بمدت ۴۸ ساعت. (الف)  تازه، (ب)  بعد از فروبردن  به مدت ۴۸ ساعت در آب (ج)  تازه ، (د) بعد از فروبردن  پوشش داده نشده بمدت ۴۸ساعت در آب و (ه) پس از فروبردن  پوشش داده شده به مدت ۴۸ ساعت در آب
 
  1. نتیجه‌گیری
ما فسفر KBP:Eu۲+ جدیدی را با نشر نور آبی سنتز نمودیم که می‌تواند در محدوده گسترده‌ای از برانگیختگی (UV تا VUV) برانگیخته شود. شدت نسبی فسفر KBP:Eu۲+ در مقایسه با فسفر BAM :Eu۲+ تجاری (نایچیا) تحت برانگیختگی ۱۴۷، ۲۵۴ و nm ۳۶۵ به ترتیب ۶۵% ، ۱۲۲% و ۱۰۸% می‌‌باشد. بنابراین فسفر KBP:Eu۲+ یک کاندیدای مناسب برای CCFLها ، PDPها و LEDهای سفید ـ pc می‌باشد. علاوه بر این، مقاومت رطوبتی زیاد با فراهم کردن یک پوشش سیلیکای با اندازه نانو که به صورت شیمیایی بر روی فسفر KBP:Eu۲+ پیوند یافته، حاصل شده است. بر این اساس، پیش‌بینی می‌شود که این روش پوشش‌دهی برای سایر نمونه‌هایی که مقاومت رطوبتی ضعیفی دارند، قابل اجرا باشد و به این ترتیب امکان کاربرد گسترده‌تر دستگاه‌های مرتبط فراهم می شود.
لطفا به جای کپی مقالات با خرید آنها به قیمتی بسیار متناسب مشخص شده ما را در ارانه هر چه بیشتر مقالات و مضامین ترجمه شده علمی و بهبود محتویات سایت ایران ترجمه یاری دهید.
تماس با ما

اکنون آفلاین هستیم، اما امکان ارسال ایمیل وجود دارد.

به سیستم پشتیبانی سایت ایران ترجمه خوش آمدید.